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行业动态 镀金钨丝在半导体测试探针中的应用:材料精度如何决定接触可靠性

admin

2026-06-15

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深入解析镀金钨丝为何成为半导体晶圆探针针体与IC测试插座接触元件的工程标准——钨的机械刚性与金的抗腐蚀特性结合,在数百万次测试循环中实现一致的接触性能,直接影响良率与测试总成本。

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