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行业动态 弹簧探针 vs. 冲压接触 vs. 悬臂探针：半导体测试探针架构选型完全指南

admin

2026-06-01

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深度比较弹簧探针（Pogo Pin）、冲压弹片接触与悬臂探针三大架构在半导体老化测试与终端测试中的技术差异，提供基于元件间距、循环寿命与工作频率的系统化选型决策框架。

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